Разделы

Выбор размеров корпуса электронного блока с принудительным охлаждением

Исходные данные.

Задан набор электронных элементов:

Блок питания:

Диоды:

Диодная матрица КД906А ТТ3.362.126 ТУ - 2 шт.

Конденсаторы:

К50-24-63В-470мкФ ОЖО.464.137 ТУ - 4шт;

К50-24-25В-100мкФ ОЖО.464.137 ТУ - 2 шт;

К50-24-25В-1000мкФ ОЖО.464.137 ТУ - 2 шт;

Резисторы:

- МЛТ-0,5-20 Ом±5%- 4 шт;

МЛТ-0,5-3,6 Ом±5%- 2 шт;

МЛТ-0,125-15 Ом±10%- 2 шт;

Стабилитрон КС175Е аАО.336.109 ТУ- 4 шт.

Транзисторы:

КТ503Г аАО.336.182 ТУ - 1 шт;

КТ502Г аАО.336.182 ТУ - 1 шт;

Трансформатор с магнитопроводом типа ОЛ - 1 шт.

Требуется:

выбрать размеры корпуса блока;

выбрать размеры и число печатных плат;

выбрать тип вентилятора;

разработать компоновку плат и вентилятора в блоке ;

сделать эскиз размещения плат, вентилятора и вентиляционных отверстий;

рассчитать все характерные размеры, необходимые для расчёта теплового режима блока с принудительным охлаждением: lп, Sв, Sзп, Sк, Sп.

.1 Расчёт объема и площадей элементов

Выписываем элементы, размещаемые на печатных платах.

Список элементов, размещаемых на печатных платах.

Для блока питания.

Таблица 1

Тип элемента

Число элементов, шт.

Диодная матрица КД906А ТТ3.362.126 ТУ

2

Конденсатор К50-24-63В-470мкФ

4

Конденсатор К50-24-25В-100мкФ

2

Конденсатор К50-24-25В-1000мкФ

2

Резистор МЛТ-0,5-20 Ом±5%

4

Резистор МЛТ-0,5-3,6 Ом±5%

2

Резистор МЛТ-0,125-15 Ом±10%

2

Стабилитрон КС175Е аАО.336.109 ТУ

4

Транзистор КТ503Г аАО.336.182ТУ

1

Транзистор КТ502Г аАО.336.182ТУ

1

Трансформатор с магнитопроводом типа ОЛ

1

Остальные элементы.

Таблица 2

Тип элемента

Число элементов, шт.

Диод Д104

75

Конденсатор К50-6-25В 500 мкФ

12

Конденсатор К50-6-25В 100 мкФ

48

Конденсатор К50-6-6В 100 мкФ

72

Конденсатор КМ-6-Н90- 0,1 мкФ

9

Конденсатор КСО-1

12

Конденсатор ПМ-1-1000 пФ

42

Микросхема К155

107

Резистор МЛТ-0,5

42

Резистор МЛТ-0,25

186

Резистор МЛТ-0,125

122

Транзистор КТ-315

17

Перейти на страницу: 1 2 3

Другие материалы

Системный анализ и оценка надежности лидарного комплекса по результатам испытаний на этапе отработки опытного образца
Проблема оценки, анализа и обеспечения надежности на этапах отработки лидарного комплекса (ЛК) в процессе испытаний является одной из актуальнейших при их создании. Программа испыта ...

Расчет элементов блоков радиоэлектронной аппаратуры
Курсовая работа по учебной дисциплине "Эксплуатация АСУ" предназначены для закрепления лекционного материала и привития студентам практических навыков в решении ...

Разработка схемы микроЭВМ на базе микроконтроллера семейства AVR Classic
В данной контрольной работе разработана схема микро-ЭВМ на базе микроконтроллера семейства AVR Classic с подключёнными к нему двумя кнопками (переключателями), двумя светодиодами и дв ...

Копирайт 2019 : www.ordinarytech.ru